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上海堅融實業脈沖特性分析降低納米材料的焦耳熱效應

日期：2014-06-13瀏覽：3025次

根據《納米快報》(Nano Letters)，《納米技術》(Nanotechnology)，《IEEE 納米技術匯刊》(IEEE Transactions on Nanotechnology)，《先進材料》(Advanced Materials)，《自然》(Nature)，《應用物理快報》(Applied Physics Letters)相關文獻資料，以及納米工程功能材料研究中心(FENA)，西部納米電子研究所 (WIN)，加州納米系統研究院的研究成果案例，上海堅融JETYOO聯合美國吉時利KEITHLEY，開發了脈沖特性分析降低納米線、納米管、納米材料和納米電子的焦耳熱效應的具體測量應用。

可以使您的產品：
脈沖測試zui小化焦耳熱效應；
符合IEEE P1650-2005 標準：“測量碳納米管電氣特性的 IEEE 標準測試方法”。
高速和簡潔的測試方案能讓生物學家、化學家、物理學家或其他研究人員簡便地進行復雜測量。

使用到的儀器設備有：
4200-SCS半導體特性分析系統

數字源表
2420 型 3A 源表
2430 型脈沖源表
2601 型高吞吐量源表
2636 型雙通道低電流和脈沖輸出源表
6430亞fA程控源表

電流源/納伏表
6220直流電流源
6221交流和直流電流源
2182A納伏表

靜電計/皮安表
6514靜電計
6517A靜電計/高阻表
6485皮安表
6487皮安表/電壓源

脈沖發生器
3401單通道脈沖/碼型發生器
3402雙通道脈沖/碼型發生器

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