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吉時(shí)利keithley發(fā)布專為高功率半導(dǎo)體測(cè)試優(yōu)化的高電壓2657A型數(shù)字源表
日期：2012-08-02瀏覽：2988次
吉時(shí)利keithley發(fā)布專為高功率半導(dǎo)體測(cè)試優(yōu)化的高電壓2657A型數(shù)字源表
美國(guó)俄亥俄州克里夫蘭，2012年3月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的*吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數(shù)字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測(cè)量單元數(shù)字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時(shí)利客戶分析范圍更寬的功率半導(dǎo)體器件和材料。2657A內(nèi)建3,000V、180W源，支持以極低的成本向被測(cè)器件輸出5倍于zui接近競(jìng)爭(zhēng)系統(tǒng)的功率，并且，構(gòu)建至2657A的精密、高速6位半測(cè)量引擎的1fA（飛安）電流測(cè)量分辨率滿足了下一代功率半導(dǎo)體器件的低漏電要求。2657A專門(mén)做了這些優(yōu)化：二極管、FET和IGBT等功率半導(dǎo)體器件的高壓測(cè)試應(yīng)用以及氮化鎵（GaN）、碳化硅（SiC）等新材料及其它復(fù)合半導(dǎo)體材料和器件的特性分析。而且，2657A還適于高速瞬態(tài)分析以及在高達(dá)3000V的各種電子器件上進(jìn)行故障測(cè)試和漏電測(cè)試。
類似于2600A系列的其它產(chǎn)品，2657A提供了*的靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載，外加精密電壓計(jì)和電流計(jì)。2657A在一個(gè)全機(jī)架機(jī)箱中整合了多種儀器功能：半導(dǎo)體特性分析儀、精密電源、真電流源、6位半DMM、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載和觸發(fā)控制器，而且通過(guò)吉時(shí)利的TSP-Link®技術(shù)*可擴(kuò)展至多通道、緊同步系統(tǒng)。與功率相對(duì)有限的同類競(jìng)爭(zhēng)方案所不同的是，2657A的源或阱能力高達(dá)180W直流功率（±3,000V@20mA，±1500V@120mA）。而且，2657A具有1fA分辨率，甚至在輸出3000V高壓的同時(shí)還能快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行亞皮安級(jí)電流測(cè)量。
數(shù)字化或集成測(cè)量模式
對(duì)于瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性分析（包括快速變化的熱效應(yīng)）而言，2657A可以選擇數(shù)字化測(cè)量模式或集成測(cè)量模式。每種模式由兩個(gè)獨(dú)立的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）定義：一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓，這兩個(gè)ADC同步工作并在不犧牲測(cè)試吞吐量的前提下確保源回讀的準(zhǔn)確性。數(shù)字化測(cè)量模式的18bit模數(shù)轉(zhuǎn)換器支持1毫秒每點(diǎn)的采樣，使用戶能同步采樣電壓和電流瞬時(shí)值。反之，競(jìng)爭(zhēng)方案通常須對(duì)多個(gè)讀數(shù)取平均值后得出結(jié)果，所以競(jìng)爭(zhēng)方案的瞬態(tài)特性分析速度不夠快。基于22bit模數(shù)轉(zhuǎn)換器且為整個(gè)2600A系列儀器所共有的集成測(cè)量模式，優(yōu)化了2657A在需要zui高測(cè)量準(zhǔn)確度和分辨率應(yīng)用中的操作，確保了下一代功率半導(dǎo)體器件常見(jiàn)的極低電流和*電壓的高精密測(cè)量。
強(qiáng)大的測(cè)試開(kāi)發(fā)工具
無(wú)需安裝軟件或使用吉時(shí)利基于LXI的I-V測(cè)試軟件工具TSPExpress編程就能實(shí)現(xiàn)基本的器件特性分析。用戶只需將PC連接至LXILAN端口并用任意支持Java的Web瀏覽器即能訪問(wèn)TSPExpress。測(cè)試結(jié)果可以用圖形方式或列表方式查看，然后導(dǎo)出為電子表格應(yīng)用的.csv文件。2657A提供創(chuàng)建測(cè)試序列的兩種附加工具：測(cè)試腳本生成器應(yīng)用（用于創(chuàng)建、修改、調(diào)試、運(yùn)行和管理TSP腳本）和基于IVI的LabVIEW®驅(qū)動(dòng)程序（簡(jiǎn)化了將2657A集成至LabVIEW測(cè)試序列）。測(cè)試腳本生成器應(yīng)用的新調(diào)試功能使測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)發(fā)更方便并且更有成效。
ACS軟件基礎(chǔ)版也是元器件特性分析的一個(gè)選件。發(fā)布版具有的豐富特性便于分析高電壓和大電流元器件。已更新的附帶測(cè)量庫(kù)用于支持高壓2657A和大電流2651A高功率數(shù)字源表的直流和脈沖工作模式。通過(guò)測(cè)試大多數(shù)器件的輸入、輸出和傳輸特性，這些測(cè)量庫(kù)支持FET、BJT、二極管、IGBT等各種功率器件。一種特殊的“追蹤模式”用簡(jiǎn)單滑動(dòng)條實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器電壓或電流輸出的實(shí)時(shí)控制。
靈活、準(zhǔn)確度高的連接和探測(cè)方案
2657A能通過(guò)兼容現(xiàn)有高壓測(cè)試應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)安全高壓（SHV）同軸電纜連接至測(cè)試系統(tǒng)的其它儀器。但是，對(duì)于需要從測(cè)量?jī)x器的小電流測(cè)量中實(shí)現(xiàn)性能zui大化的應(yīng)用而言，吉時(shí)利還提供了專門(mén)的高壓三軸（防漏電）的連接以*化2657A的測(cè)量準(zhǔn)確度。
新型8010高功率器件測(cè)試夾具選件能連接高達(dá)3000V或100A的測(cè)試封裝高功率器件，可以更安全、更容易地配置包含高電壓2657A，一臺(tái)或兩臺(tái)大電流2651A測(cè)量?jī)x器以及多達(dá)3臺(tái)低功率SMU儀器（其它2600A系列儀器或4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)）的器件測(cè)試系統(tǒng)。除了標(biāo)準(zhǔn)的香蕉頭跳線外，8010的后面板示波器和散熱探針端口簡(jiǎn)化了DUT深入特性分析的系統(tǒng)集成。8010具有完整的安全互鎖功能。為防止在發(fā)生器件故障時(shí)損壞測(cè)量?jī)x器，8010的集成保護(hù)電路防止2600A系列儀器的較低電壓輸入端口被2657A輸出的高壓損壞。而且，獨(dú)立保護(hù)模塊簡(jiǎn)化了多臺(tái)SMU與第三方探測(cè)臺(tái)、元器件機(jī)械手或其它測(cè)試夾具的連接。
關(guān)于吉時(shí)利keithley儀器公司:
美國(guó)吉時(shí)利儀器公司擁有60多年測(cè)試與測(cè)量的豐富經(jīng)驗(yàn)，成為*電子量測(cè)儀器和系統(tǒng)的。我們的客戶都是在電子相關(guān)行業(yè)從事先進(jìn)材料研究,半導(dǎo)體組件開(kāi)發(fā)和制造,以及生產(chǎn)便攜式無(wú)線裝備等產(chǎn)品的科學(xué)家和工程師。吉時(shí)利提供給客戶的價(jià)值,是專對(duì)客戶關(guān)鍵量測(cè)需求與掌握客戶的應(yīng)用提供一整套完整解決方案,以提高客戶產(chǎn)品質(zhì)量和降低測(cè)試成本。2010年，吉時(shí)利儀器與泰克測(cè)試測(cè)量業(yè)務(wù)合并。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 美國(guó)BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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