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上海堅融實業納米新材料研究測試方案
日期：2014-06-13瀏覽：1970次
納米技術日益成為科學技術向前發展趨勢的主導技術。納米級科學和工程將基礎研究和教育的進步，電子和光電器件的進步以及半導體制造、生物技術、替代能源和工業制造的顯著變化。上海堅融實業有限公司致力于納米新材料研究測試方案，使用吉時利6430型亞fA程控源表Measures currents with 400aA (400x10-18A是負18次方安培，也就是亞安) Sensitivity ，采用4 線連接至碳納米管進行測量。
測量這些材料的一種zui常用的測量技術是使用 4 線或 “Kelvin” 測量。采用 Kelvin 測量技術時，需要第二組探頭用于感測。因為這些探頭中的電流可忽略不計，所以只用測量 DUT 兩端的壓降。因此，電阻測量或 I-V 曲線發生就更準確了。
在器件開發過程中，類似納米線、碳納米管和納米晶體的結構常常表現出與眾不同的特點。分析這些特點而不損壞*的結構需要能對源進行嚴格控制的系統，以防止器件自發熱。吉時利測量儀器將這種嚴格控制與超快測量速度和靈敏度結合在靈活、模塊化的結構中從而很容易適應不斷變化的測試要求。
吉時利4200-SCS型半導體特性分析系統中的吉時利交互式測試環境 (KITE) 允許任何納米科學領域的研究人員培養輕松、快捷地配置測量測試的能力。KITE 是一款用于納米材料和器件以及半導體器件特性分析的應用程序。測試中的源和測量功能由源測量單元(輸出并測量直流電壓和電流的電子儀器) 提供。測試能力的擴展可以通過各種外部組件的支持實現。這是碳納米管 I-V 測試的設置范例以及單壁碳納米管的 I-V 掃描結果。
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