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DESCO EMI-20780靜電電阻測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試
日期：2014-11-12瀏覽：2190次
中國(guó)電子行業(yè)儀器供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器JETYOO INSTRUMENTS推出美國(guó)DESCO EMI-20780表面靜電電阻測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試:
1. 防靜電工作臺(tái)面電阻(ESD S4.1標(biāo)準(zhǔn))
2. 防靜電地板電阻(ANSI/ESD S7.1標(biāo)準(zhǔn))
3. 防靜電鞋電阻(ESD S9.1標(biāo)準(zhǔn))
4. 防靜電工作服電阻(ESD STM 2.1標(biāo)準(zhǔn))
5. 防靜電工作椅電阻(ESD STM 2.1標(biāo)準(zhǔn))
6. 人體通過防靜電鞋和地板的接地電阻(ESD STM 97.1標(biāo)準(zhǔn))
7. 防靜電工作臺(tái)接地電阻(ESD-ADV 53.1標(biāo)準(zhǔn))
美國(guó)DESCO EMI-20780靜電電阻測(cè)試儀Surface Resistance Test Kit可以方便地測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)電阻(RTT), 接地電阻(RTG)和體積電阻, 配套50560平板電極可測(cè)試表面電阻率, 配套844兩點(diǎn)測(cè)試電極可測(cè)量微小物體表面電阻，配套20002同心圓重錘電極可以測(cè)量表面電阻及表面電阻率。
符合EOS/ESD–S4.1/S7.1、EN 100015 Teil1、IEC 93、IEC 61340-5-1、DIN IEC 1340-4-1規(guī)范要求。
符合ESD-S 11.11-19931、EN 61340-5-1、DIN EN 61340-2-3:2000規(guī)范要求
符合SAE J1645規(guī)范要求，用于測(cè)試管材、線材及其他不規(guī)則形狀的物體點(diǎn)到點(diǎn)電阻、接地電阻、體積電阻、靜電衰減時(shí)間。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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